Ma B., Balachandran U., Xu Y., Efstathiadis H., Bhattacharya R., Lei C.H., Evans H., Manisha R., Massey M.
Barnes P.N., Efstathiadis H., Varanasi C.V., Burke J., Maartense I., Brunke L., Padmaja N., Chaney A.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, substrate Cu alloy, microstructure, texture, fabrication
Rupich M.W., Li X., Kodenkandath T., Rane M.V.(mrane@uamail.albany.edu), Efstathiadis H., Bakhru H.((hb694@albany.edu), Zhang W.(wzhang@amsuper.com), Haldar P.
Ключевые слова: HTS, YBCO, TFA-MOD process, microstructure, buffer layers, interfaces, fabrication
Efstathiadis H.(hefstathiadis@uamail.albany.edu), Haldar P.(pHaldar@uamail.albany.edu), Ye H.(HYe@uamail.albany.edu), Raynolds J.(JRaynolds@uamail.albany.edu), Hennessy M.J.(MJHennessy45@aol.com), Mueller O.M., Mueller E.K.
Ключевые слова: power electronics, cryogenic systems, HTS, switching process, review
Selvamanickam V., Hatzistergos M.S., Efstathiadis H.(hefstathiadis@uamail.albany.edu), Lifshin E., Kaloyeros A.E., Reeves J.L., Allen L.P.(lallen@epion.com), MacCrimmon R.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, substrate SrTiO3, MOCVD process, microstructure, critical current density, critical caracteristics, fabrication
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.